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CP/FT 测试程序开发:

1.可开发产品类型:

 1.  LDODC-DCCP/OPPWM、锂电保护、LED DriverFAN DriverMotor Driver等所有模拟器件

2.  Flash Memory Mix-Signal SOC CISAnalog 

3. Test Program Development

2.中测与成测

 1. 中测:Prober for 6,8,12 Wafer

2. 成测:DIPTO系列 PLCCSOTSSOPTSSOPTSOPQFP TQFPLQFPBGADFNQFNLGA

3.可依据开发量产测试程序的ATE平台:

   J750(泰瑞达)D10(蔚华科技)Credence(ALS3000/ASL1000)Advantest(爱德万)、ETS 200/300/364(Eagle)V93000/V50(美国Verigy)Accotest (华峰测控ACCOTEST)T861(宏邦)等。

小批量产品工程测试验证:

可提供小批量产品基于ATE机台,手工测试验证、调试等。